三相工控繼電保護(hù)校驗(yàn)儀頻率及高低周試驗(yàn)方法：

 “頻率及高低周試驗(yàn)”測試模塊主要是用來測試低周減載和高周切機(jī)等保護(hù)的各項(xiàng)功能。根據(jù)其功能，將這個(gè)模塊分成了六個(gè)測試單元。

l 測試項(xiàng)目全面，包含了幾乎所有的頻率及高低周保護(hù)

l 頻率可以下滑進(jìn)行低周減載測試，也可以上滑進(jìn)行高周試驗(yàn)

第一節(jié)   界面說明

¢ 測試項(xiàng)目

有“動作頻率”、“動作時(shí)間”、“df/dt閉鎖”、“dv/dt閉鎖”、“低電壓閉鎖”以及“低電流閉鎖”等六個(gè)測試項(xiàng)目。根據(jù)需要，可以選擇其中的一個(gè)或者多個(gè)進(jìn)行試驗(yàn)。選擇多個(gè)測試項(xiàng)目時(shí)，在一個(gè)測試項(xiàng)目測試完畢后，會彈出相應(yīng)對話框提示是否進(jìn)行下一個(gè)測試項(xiàng)目。

測試對象名稱中包含“低周保護(hù)”、“頻率繼電器”、“差頻繼電器”、“低頻繼電器”以及“高頻繼電器”五種繼電器。默認(rèn)情況下選擇“低周保護(hù)”。其下拉菜單如圖所示：

¢ 試驗(yàn)參數(shù)

—  頻率變化前延時(shí)

在變量的每個(gè)變化過程中，裝置先以額定頻率50Hz輸出，維持至“頻率變化前延時(shí)”結(jié)束，然后再開始變化。該項(xiàng)在有些保護(hù)測試是非常有用，可以用來等待保護(hù)頻率閉鎖后解除閉鎖。

—  測試間斷時(shí)間

每一次試驗(yàn)結(jié)束后裝置將停止輸出至“測試間斷時(shí)間”結(jié)束，再進(jìn)入下一次試驗(yàn)。

—  整定值

各測試功能頁中均有整定值輸入框，這些整定值大多在試驗(yàn)期間并不起作用，只是在試驗(yàn)后起到參考對比作用。根據(jù)需要自行設(shè)定“允許誤差”。試驗(yàn)測得的“測試值”與“整定值”進(jìn)行比較后，得出一個(gè)相對誤差，從而反映保護(hù)的性能。

¢ 動作頻率

—  動作頻率測試范圍

動作頻率測試范圍的測試始值和終值均應(yīng)設(shè)置在動作頻率附近。三相工控繼電保護(hù)測試儀測試始值應(yīng)大于保護(hù)整定動作值，測試終值小于整定動作值，

動作頻率的測試方法：測試時(shí)頻率分兩階段變化：開始以50Hz輸出，經(jīng)過變化前延時(shí)后，先按所設(shè)定的df/dt均勻下滑（或上滑）至測試始值頻率，然后按設(shè)定的步長以一定時(shí)間間隔逐格降低（或上升）頻率，在該過程中如保護(hù)動作，則測出動作值。如未動作，當(dāng)變化至測試終值，即認(rèn)為保護(hù)不會動作而結(jié)束該項(xiàng)目測試。

這里逐格變頻的時(shí)間間隔是根據(jù)整定的動作時(shí)間自動確定的，該時(shí)間間隔比整定動作時(shí)間長0.2S。故整定動作時(shí)間應(yīng)設(shè)置正確，以保證在變化時(shí)間間隔內(nèi)保護(hù)有足夠時(shí)間可以動作。

做低周減載試驗(yàn)一般測試范圍小于50Hz，做高周切機(jī)試驗(yàn)一般測試范圍大于50Hz。

例如：已知低周動作值為48.5Hz，可以設(shè)定測試范圍為48.7—48Hz，步長為0.05Hz。測試始值和終值不能設(shè)置得太?。ㄒ话銘?yīng)不低于45Hz），否則保護(hù)將閉鎖。

¢ 動作時(shí)間

動作時(shí)間測試的方法：頻率從始值（一般為50Hz）下滑至終值并等待動作。該終值應(yīng)略小于動作頻率值以確保裝置動作，但測試動作時(shí)間的計(jì)時(shí)器是從所設(shè)定的“開始計(jì)時(shí)點(diǎn)的頻率”處開始計(jì)時(shí)，故該值若有偏差將影響時(shí)間測量精度。試驗(yàn)過程見右圖。

—  開始計(jì)時(shí)的頻率點(diǎn)

測動作時(shí)間時(shí)，應(yīng)特別注意正確設(shè)置“開始計(jì)時(shí)點(diǎn)的頻率”。一般設(shè)置為裝置整定的動作頻率，或測試出的準(zhǔn)確動作頻率值。

¢ df/dt閉鎖

—  df/dt測試范圍

測試“df/dt閉鎖值”時(shí)，在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每次測試時(shí)都從頻率始值下滑（或上滑）至終值，下滑（或上滑）的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)至保護(hù)動作，則測出此時(shí)的df/dt閉鎖的邊界值。

因?yàn)楸Ｗo(hù)在大于整定的df/dt值下滑時(shí)閉鎖，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護(hù)整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護(hù)整定的閉鎖值，即測試保護(hù)從不動作到動作，測出保護(hù)的df/dt閉鎖值。

—  頻率變化范圍

每輪試驗(yàn)頻率從始值下滑（或上滑）至終值。始值一般為50Hz，三相工控繼電保護(hù)測試儀變化終值不能設(shè)置太小，因?yàn)橐话阊b置都有一個(gè)固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會被閉鎖不出口。

注意：

做該試驗(yàn)時(shí)頻率變化前延時(shí)一般不能太小，以使保護(hù)有足夠時(shí)間解除閉鎖狀態(tài)。

¢ dv/dt閉鎖

這個(gè)測試頁與上文中的“df/dt閉鎖”很相似，區(qū)別在于每輪測試變化的是dv/dt值。下面只對它們的不同點(diǎn)做介紹。

—  dv/dt測試范圍

測試“dv/dt閉鎖值”時(shí)在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每次測試時(shí)電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)如果保護(hù)動作，則測出dv/dt閉鎖的邊界值。

因?yàn)檠b置在大于整定的dV/dt閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動作做到動作，從而測出裝置的dv/dt閉鎖值。

—  電壓變化范圍

為了模擬電壓下降的過程，一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時(shí)，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。

—  測試時(shí)df/dt值

在此測試單元里頻率總是按所設(shè)置的df/dt變化，因此設(shè)置df/dt時(shí)，應(yīng)保證其值小于裝置所整定的df/dt閉鎖值。

¢ 低電壓閉鎖

該頁與上文中的“df/dt閉鎖”和“dv/dt閉鎖”相似。下面僅介紹不同點(diǎn)。

—  電壓測試范圍

測試時(shí)電壓在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每輪測試時(shí)頻率變化，但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加，至某一值時(shí)裝置解除閉鎖正確動作，則該值即為低電壓閉鎖邊界值

由于裝置在電壓小于閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，故一般變化始值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動作到動作，從而測出裝置的低電壓閉鎖值。

¢ 低電流閉鎖

該測試頁與“低電壓閉鎖”試驗(yàn)方法非常相似?，F(xiàn)場試驗(yàn)時(shí)，請參考“df/dt閉鎖”、“dv/dt閉鎖”和“低電壓閉鎖”中的使用說明。